走査型電子顕微鏡
紹介
細く集束させた電子線で試料表面を走査しながら各点から発生する二次電子を検出し、その信号をモニターに像として描きます。
詳細
機器名(英名)
Scanning Electron Microscope
規格・型式
S-4800
メーカー名
HITACHI
設置場所
D31-12 [ 走査電顕室 ]
主担当者
老木 [ 内線：3390 ]
副担当者
水野 [ 内線：3490 ]
医学科外利用
利用可
学外利用
利用可
有償/無償
有償
この機器について
【仕様】
加速電圧 0.5～30kV (0.1kVSTEP)
観察倍率 20～800,000倍
撮影画素数 2560 x 1920 画素
【導入年度】
2009年度
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